VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

1st Edition,2011

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Paperback)

TK. 1,238
কমিয়ে দেখুন
tag_icon

বই ও পণ্যে ৭০% পর্যন্ত ছাড়! বছরের সেরা ডিল, রকমারি ক্লিয়ারেন্স সেল, ২০২৫

আরো দেখুন

বইটি বিদেশি প্রকাশনী বা সাপ্লাইয়ারের নিকট থেকে সংগ্রহ করে আনতে আমাদের ৩০ থেকে ৪০ কর্মদিবস সময় লেগে যেতে পারে।

Bijoy-Dibosh-2025 image

এই ই-বুক গুলোও দেখতে পারেন

বইটই

বইটির বিস্তারিত দেখুন

Title VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Author
Publisher
ISBN 9789380501550
Edition 1st Edition,2011
Country India
Language English

Sponsored Products Related To This Item

Reviews and Ratings

sort icon

Product Q/A

Have a question regarding the product? Ask Us

Show more Question(s)

Customers Also Bought

loading

Similar Category Best Selling Books

prize book-reading point
Superstore
Up To 65% Off

Recently Viewed

cash

Cash on delivery

Pay cash at your doorstep

service

Delivery

All over Bangladesh

return

Happy return

7 days return facility

Video

0 Item(s)

Subtotal:

Customers Also Bought

Are you sure to remove this from bookshelf?

Write a Review

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

Laung-Terng Wang

৳ 1,238 ৳1238.0

Please rate this product